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ST2558B-F01型薄膜方阻直线四探针探头
ST2558B-F01型薄膜方阻直线四探针探头
苏州晶格电子有限公司自主研发生产ST2558B-F01薄膜直线型方阻测试仪,四探针测试探头,薄膜电阻率测试探头,四探针测试仪,方阻测试仪
产品类别: ST2558B-F01型薄膜方阻直线四探针探头
上架时间: 2013/5/1 22:33:37
浏览次数: 39206
产品详细
一 、功能与结构特征概述
薄膜电阻率测试探头
   ST2558B-F01薄膜直线型方阻测试仪四探针测试探头
           ST2258B-F01 型薄膜方阻直线四探针测试探头
     基本功能:ST2258B-F01 型薄膜方阻直线四探针探头,直线2+2+2 mm针距,有球形尖镀金磷铜合金探针,配以四探针仪器和测试台,用以测试柔性材料导电薄膜、金属涂层或薄膜、陶瓷或玻璃等基底上导电膜(ITO膜)或纳米涂层等半导体材料的电阻率/方阻。
     基本组成:成套探头有可拆换式探针、探针座、手持式外套、测试台连接单元,仪器连接线缆等部件组成。
     配套与兼容:本探头兼容本公司所有四探针仪器和四探针测试台,如下表主要型号,配以本公司测试台,也可兼容其他大部分厂家四探针仪器。
        ST2258B-F01 型薄膜方阻直线四探针探头适用产品部分型号及名称列表
测试台型号名称
四探针仪器型号名称
型号
名称
型号
名称
SZT-A
四探针测试台
ST2253
数字式四探针测试仪
SZT-B
电动四探针测试台
ST2258A
多功能数字式四探针测试仪
SZT-C
快速恒压四探针测试台
ST2263
双电测数字式四探针测试仪
 
 
M-2
手持式四探针测试仪
 
 
M-3
手持式四探针测试仪
 
 
……
其他厂家型号
 
 
RST-4/8
数字式四探针测试仪
 
 
SDY-4
数字式四探针测试仪
二、主要技术参数及说明
    1 可测片料块料或棒料等。最小样品尺寸3mm×10mm,最大平面尺寸和厚度,由所配测试台决定,手持探头方式不限。
    2 .1探  针  间  距:直线2+2+2 mm针距。
    2.2探针机械游移率: ±0.5%。
    2.3探          针:镀金磷铜合金,Φ0.75mm。
    2.4压          力: 0~500g可调,额定压力约400g。
    3 探针为可快捷拆换型,方便生产线频繁使用。
    4 本公司可为顾客长期代购探针配件,价格优惠,服务周到。
三、使用方式,请参照各配套测试台使用方式。
四、联系方式:13656225155/0512-80973697  QQ:1064887318 丁先生
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