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SZT-G型橡塑材料电阻率测试台
SZT-G型橡塑材料电阻率测试台
苏州晶格电子有限公司自主研发生产四探针测试仪,方阻测试仪,SZT-G型橡塑材料电阻率测试台,四探针测试台
产品类别: SZT-G型橡塑材料测试台
上架时间: 2013/5/2 15:07:54
浏览次数: 34173
产品详细
一 、功能与结构特征概述
四探针测试台

SZT-G型橡塑材料电阻率测试台

    基本功能: SZT-G型橡塑材料电阻率测试台,配以四探针仪器构成成套测试系统,是运用四端子测量原理的专业测量橡塑材料或半导体薄膜的电阻率/方阻的多用途综合测量装置.(以下简称测试台)
    基本组成:测试台由样品盒、测试电极组、升降台、支架、连接线缆等部件组成。
    配套与兼容本测试台兼容本公司所有台式四探针测试仪器。本测试台可兼容国内同行绝大多数四探针电阻率/方阻测试仪器。
    优势特征本测试台电极组升降是快速恒压手动方式,稳定性好、结构紧凑、测量简便等特点。样品盒是用耐高温、耐腐蚀、高绝缘的材料做成的,并且带有联通电极,这样清洁好的标准样品装夹后,便于烘干、时效、测试、移动等,而避免手接触样品带来污染影响测试精度。
仪器适用于半导体薄膜材料厂、橡塑材料厂、金属薄膜材料厂、电容器厂、科研单位、高等院校等对半导体或橡塑材料的方阻、电阻率性能的测试。

二、技术参数(以配ST2258A型多功能数字式四探针测试仪为例)

2.1 测量范围、分辨率(有所配仪器决定)
 (1)方阻测试范围*(以配SZT-G测试刀架为例)
     测量膜宽:1mm≤B≤50mm
     方阻测量值: 1.0×10-3 ~ 2.000×106 Ω/□, 分辨率:1.0×10-4 ~ 1.0×103  Ω/□。
(2)电阻率测试范围(以配SZT-G测试刀架为例)
    (厚度d<10mm,宽w<50mm)
     电阻率测量值: 1.0×10-3 ~ 2.00×106 Ω*cm, 分辨率:1.0×10-4 ~ 1.0×103  Ω*cm。
2.2 SZT-G50测试刀架:
    ⑴电压刀片间距:20mm±0.2% ,刀长60mm
    ⑵电流刀片间距: 70mm,刀长60mm
    ⑶测试刀架外型尺寸:220×180×200(长×宽×高)
三、详情请登陆苏州晶格电子有限公司官方网站http://www.jgdz.com.cn
     查看《SZT-G型橡塑材料电阻率测试台技术使用说明书》
 
四、联系方式:13656225155/0512-80973697  QQ:1064887318 丁先生
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