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SZT-I型平行四刀法薄膜方阻刀形测试台
SZT-I型平行四刀法薄膜方阻刀形测试台
产品类别: SZT-I 平行四刀法 电容器薄膜方块电阻测试仪专用测试架
上架时间: 2013/5/1 21:47:19
浏览次数: 3360
产品详细
一 、功能与结构特征概述
 

                      SZT-I型平行四刀法方阻测试台
      基本功能:SZT-I 型平行四刀法薄膜方阻刀形测试台,有四个平行刀型测试电极,配以四探针仪器,用以测试柔性半导体薄膜或金属涂层薄膜方阻。
      基本组成:成套测试台有四个平行刀型测试电极、测试台架、仪器连接线缆等部件组成。
      配套与兼容本测试台兼容本公司所有四探针仪器,如下表主要型号,也可兼容其他大部分厂家四探针仪器。
           ST2558A-F02 型薄膜方阻刀形测试台适用产品部分型号及名称列表
序号
型号
名称
备注
1
ST2558A
多功能数字式方阻测试仪
柔性薄膜方阻测试专用
2
ST2558B
多功能数字式方阻测试仪
柔性薄膜方阻测试专用
3
ST2258A
多功能数字式方阻测试仪
柔性薄膜方阻测试专用
4
ST2258B
多功能数字式方阻测试仪
柔性薄膜方阻测试专用
5
ST2253
数字式四探针测试仪
柔性薄膜方阻测试专用
二、主要技术参数及说明
    1柔性薄膜方阻测试专用
    2可测尺寸宽5~100mm,电压刀距100mm,电流刀距130mm。
    3磷铜探刀,接触良好可靠
    4 探刀为可快捷拆换型,方便生产线频繁使用
    5 本公司可为顾客长期代购探针配件,价格优惠,服务周到
三、使用方式,请参照各配套测试台使用方式。
四、联系方式:18914021918/0512-80973697  QQ:1064887318 丁先生
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