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SZT-E型四端子半导体材料电阻率测试台
SZT-E型四端子半导体材料电阻率测试台
产品类别: SZT-E测试台
上架时间: 2013/5/2 14:40:32
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产品详细
SZT-E型四端子半导体材料电阻率测试台
一 、功能与结构特征概述
  

    基本功能:SZT-E型四端子半导体材料电阻率测试台,是连接四探针测试主机,用来装夹半导体固体样品(长方体或圆柱体),进行压力施加,并同步进行电阻率测试的装置(以下简称测试台)。是四端子法测试固体样品轴向电阻率的必备配套单元。
   基本组成:测试台分为上下平行平板电极、油压千斤顶加压机构、压力检测指示单元、测试台支架、连接线缆等单元组成。
   配套与兼容:本测试台兼容本公司所有台式四探针测试仪器,电阻率的测试范围则有所配四探针仪器决定。本测试台也可兼容国内同行绝大多数四探针电阻率/方阻测试仪器。
   优势特征:测试台设计符合GB 24525-2009 炭素材料电阻率测定方法和有关国标和行业标准。采用国际通用的电流、电压四端子测量法(仪器电流源和电压表两个单元分别从独立回路连至电极同时和样品接触),可以消除电极与连接导线导通电阻产生的误差,克服了传统的二端法测量粉末电阻率仪器的弊病,可以真实地、准确地测量出粉末样品的电阻率,因此重复性也好。
本仪器具有测量精度高,操作简便、稳定性好,重复性好,使用方便等特点。本仪器适用于碳素厂、焦化厂、石化厂、粉末冶金厂、高等院校、科研部门、是检验和分析炭素材料等固态样品质量的一种重要优良工具。                                                
 
二、主要技术指标:
A“SZT-E型四端子半导体材料电阻率测试台”参数
  1、  试样尺寸:直径:D≤Φ100mm(或长方形截面对角线≤100mm)
      高度:H≤50mm
  2、测试压强
      取样压力:000.0~2000.0Kg ,连续可调
      压力指示:000.0~2500.0Kg
  3、压力机构采用手动操作、压力平稳可调/可保持。
  4、测试台外形:240mm(前宽)×120 mm(后长)×510mm(总高)
       重      量:25Kg
 
B  电阻率注测量范围(由配置的四探针测试仪主机确定),
   以配常规ST2258A四探针测试仪为例:
  1、测量范围:
     电阻率:    10-4~200X103Ω-cm
     测量误差±(0.3%读数+2字)
  2、测量电压量程: 200 mV 
      测量精度±(0.3%读数+2字)
  3、⑴电流输出:直流电流 0~1000mA 连续可调,由交流电源供电。
      ⑵量程:1μA,10μA,100µA,1mA,10mA,100mA, 1000mA
      ⑶误差:±0.5%读数±2 字
  4、显示方式3 1/2数量字显示电阻、电阻率, 单位、小数点自动显示。
  5、电源:220±10% 50Hz-60Hz,  功率消耗<15W
  6、外形尺寸:W×H×L=215mm×85mm×190mm
     净   重:≤1.5~2.0kg
 以配ST2254超高阻微电流测试仪做配套则上限可到1012

三、测试台使用方式
   详情请登陆苏州晶格电子有限公司官方网站http://www.jgdz.com.cn
   查看下载《SZT-E型四端子半导体材料电阻率测试台技术使用说明书
四、咨询电话:18914021918  0512-80673697(技术) QQ 1064887318
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